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進料的wafer，經(jīng)過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡性能描述：

標準配備1個Load port，單臂翻轉(zhuǎn)Robot，Pre-aligner，目檢臺和顯微鏡。

兼容8寸和12寸wafer。

標準load port可以對應(yīng)FOUP，AutoFOSB自動開蓋，具備mapping功能。

高精度運動機構(gòu)，低噪音，低塵，無需供油。

觸摸屏操作,界面友好。

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡對應(yīng)GEM300，采用SEMI標準軟件。

公司為您提供全自動晶圓2D/3D AOI光學(xué)檢驗機的參數(shù)、價格、型號、原理等信息，全自動晶圓2D/3D AOI光學(xué)檢驗機產(chǎn)地為日本、品牌為--，型號為GBIT-WA-100，價格為面議，更多相關(guān)信息可咨詢，公司客服電話7*24小時為您服務(wù)。