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| 應用領域 | 化工,電氣,綜合 |
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ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC
TLP 測試機
l 用于獲取器件保護電路的相關(guān)參數(shù)特性
l 為器件升級提供支持，縮短產(chǎn)品周期
l 提供普通和VF（非常快）型號。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。
l 具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產(chǎn)率。
l 可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測試儀結(jié)合使用現(xiàn)在提供大電流輸出型號（T5000-HC）。
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備
此設備是對保護電路的工作特性進行模擬測試的設備
對集成電路里保護電路的工作參數(shù)的收集與分析有很大幫助
也可進行VF-TLP測試
| 產(chǎn)品名/型號 | 設備說明 | 設備介紹視頻 |
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 HED-T5000/ | 此設備配備了先進的測試模式 | |
 HED-T5000-HC | 目前，對于半導體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加 |
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