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ESD(靜電放電)測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。
HED-W5100D
全自動晶圓ESD測試機(jī)
l 最高支持12英寸 300mm晶圓ESD測試方案
l 測試效率高,自動探針臺和晶圓映射程序啟用了全自動晶圓級ESD測試
l 同時支持package測試
l 配備CCD相機(jī)
l 可以與Hanwa TLP測試儀,HED-T5000和T5000VF
l Woks 集成在一起,作為不帶插座板的高引腳數(shù)封裝級測試儀。
l SCM(10pF浪涌)選項(xiàng)可用。
公司已經(jīng)與多家世界的半導(dǎo)體器件和精密測試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括:探針臺系統(tǒng)制造商MPI;世界微波組件和測試系統(tǒng)制造商MAURY;測量儀器制造商KEYSIGHT;的模型服務(wù)商Modelithics;EDS設(shè)備日本HANWA和TOTOKU等。憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累,我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務(wù)
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