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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀
技術(shù)
DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀采用了創(chuàng)新的測量原理，使非傳統(tǒng)的熱膨脹實驗成為可能，并改善了許多傳統(tǒng)的測試
測量原理
DIL 806采用了陰影光的方法。在該方法中，通過測量CCD探測器上樣品的陰影來測量一個方向上樣品的絕對尺寸的大小。 高強(qiáng)度的GaN LED發(fā)出平面光，通過一個擴(kuò)散單元和準(zhǔn)直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精細(xì)處理，并由高分辨率的CCD探測器記錄。數(shù)字邊緣檢測自動確定陰影的寬度，進(jìn)而測定樣品的尺寸。
絕對測量的優(yōu)勢
DIL 806測量本質(zhì)上是一個絕對的測量，不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響。 只有樣品經(jīng)歷溫度的變化，光源和檢測器與這些變化相隔離。因此，測量是絕對的，不需要進(jìn)行頂桿式膨脹儀使用中常見的特定測試的校準(zhǔn)。
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