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深圳市泰立儀器儀表有限公司

當(dāng)前位置:深圳市泰立儀器儀表有限公司>>計量檢測儀器>>電子掃描顯微鏡>> KYKY-EM8000中科科儀場發(fā)射槍掃描電鏡

中科科儀場發(fā)射槍掃描電鏡

訂       金: 1580000

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號KYKY-EM8000

品牌KYKY/中科科儀

廠商性質(zhì)代理商

所在地深圳市

更新時間:2023-04-10 15:29:27瀏覽次數(shù):1287次

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背散射電子圖像分辨率 2-3000000倍 產(chǎn)地類別 國產(chǎn)
二次電子圖象分辨率 2nm 放大倍數(shù) 2-3000000x
加速電壓 0.02-30kV 價格區(qū)間 100萬-150萬
儀器種類 冷場發(fā)射 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,綜合
中科科儀場發(fā)射槍掃描電鏡 KYKY-EM8000 非導(dǎo)體試樣或電子束敏感試樣可不噴涂導(dǎo)電膜直接觀測,肖特基場發(fā)射電子槍,亮度高、單色性好、束斑小、壽命長。

中科科儀場發(fā)射槍掃描電鏡  KYKY-EM8000


適用于:電池材料、半導(dǎo)體、復(fù)合材料、高分子、動植物、微生物、粉末冶金、礦物、金屬行業(yè)、建筑材料、化工材料、陶瓷材料。


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掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合,可以做到觀察微觀形貌的同時進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。

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優(yōu)點

1)肖特基場發(fā)射電子槍,亮度高、單色性好、電子束斑小、壽命長

2)低加速電壓下能保持較好的亮度和較高的分辨率

3)束流穩(wěn)定度高、色散小,適宜于長時間的各種精準(zhǔn)分析,如CLEDS、EBSD

4)低加速電壓,可直接觀測電子束敏感樣品,不需噴金

5)操作簡便,僅用鼠標(biāo)即可完成所有的電鏡操作

 

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特點

高性能肖特基場發(fā)射電子槍,亮度高、單色性好、束斑小,壽命更長

低加速電壓下,保持較好的亮度、分辨率

低加速電壓不導(dǎo)電樣品可以直接觀測,無需噴金

束流穩(wěn)定度高,滿足長時間工作需求

滿足用戶定制化需求,適合多模塊嵌入,多系統(tǒng)互聯(lián)

易操作,易維護,性價比高,性能遠(yuǎn)高于普通鎢燈絲類電鏡

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中科科儀場發(fā)射槍掃描電鏡  KYKY-EM8000 參數(shù)

分辨率: 1.5nm@15KVSE); 3nm@30KVBSE

放大倍率: 8-1600000

電子槍: 肖特基場發(fā)射電子槍

加速電壓: 0.02-30kV

樣品臺: 手動樣品臺(標(biāo)配)、五軸全自動預(yù)對中樣品臺(選配)

探測器: 高真空二次電子探測器(具備防碰撞功能)

透鏡系統(tǒng): 多級高性能錐形透鏡系統(tǒng)

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型號

KYKY-EM8000F

分辨率

1.5 nm(15KV); 5nm(3KV)

放大倍數(shù)

15x~500,000x

加速電壓

0 ~ 30KV

電子槍

Schottky肖特基場發(fā)射電子槍

自動調(diào)整功能

聚焦、亮度/對比度、消像散、電子束對中等

真空系統(tǒng)

高真空二次電子探測器(具備保護探測器探頭不被碰撞的功能)

行程

X

0 ~ 80mm

Y

0 ~ 60mm

Z

0 ~ 50mm

R

360°

T

-5° ~ 90°

探測器

SE探測器,BSE探測器(可選),X-ray能譜儀(可選),EBSD(可選)

 

尺寸

電子光學(xué)鏡筒部分: 800×800×1480(mm)

電器柜控制部分: 1340×850×740(mm)

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優(yōu)勢

1. Schottky肖特基場發(fā)射電子槍亮度高、單色性好、電子束斑小,壽命長

2. 低加速電壓下能保持較好的亮度和較高的分辨率

3. 束流穩(wěn)定度高、色散小,適宜于長時間的各種精確分析,如BSE、EDS、EBSD

4. 低加速電壓不導(dǎo)電樣品可以直接觀測,無需噴金

5. 多種自動功能,操作十分簡便,僅用鼠標(biāo)即可完成所有的電鏡操作

 

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應(yīng)用領(lǐng)域


電池材料、半導(dǎo)體、復(fù)合材料、高分子、動植物、微生物、粉末冶金、礦物、金屬行業(yè)、建筑材料、化工材料、陶瓷材料。

 

掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點。


目前,掃描電子顯微鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究,僅在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。

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