美國NDT Systems膠接成像檢測儀Bondascope3100
簡介
復(fù)合和膠接材料更多的應(yīng)用于航空航天，用于汽車以及船舶的加固和減輕重量。
膠接材料的結(jié)構(gòu)完整性使得其不適用于大多數(shù)現(xiàn)有的技術(shù)檢測。
傳統(tǒng)的檢測技術(shù)因膠接材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部衰減而受到限制。
膠接檢測有多種操作模式，廣泛應(yīng)用于多種材料及復(fù)材。
多層粘合結(jié)構(gòu)和復(fù)合材料的增加使用，出現(xiàn)除傳統(tǒng)檢測以外的新檢測方法。傳統(tǒng)的檢測方法在檢測多層粘合結(jié)構(gòu)、復(fù)材和夾層結(jié)構(gòu)存在局限性。
膠接檢測操作運(yùn)行在低頻范圍，兩種干耦合操作模式適用于不同的材料組合、缺陷類型和結(jié)構(gòu)。.
成像膠接檢測儀，提供C-scan 成像和軟件分析，增強(qiáng)了傳統(tǒng)膠接檢測的功能。
1.數(shù)字成像顯示
2.增加檢測概率范圍
3.一個新方法解決之前不能檢測的部分
4.100% 覆蓋率，掃描更快更精確
BondHub介紹
集成的PC和掃描儀馬達(dá)驅(qū)動器
精準(zhǔn)成像和專業(yè)分析軟件
讀取Bondascope（或其他設(shè)備）數(shù)據(jù)
詳細(xì)分析掃描區(qū)域，速率和分辨率
C-scan掃描成像
分析全面，3D成像顯示
新的檢測方法
玻璃纖維/泡沫心
3/16" 薄層, 短纖維氈片, 0/90o 到45o l結(jié)合處
UT 無法滲透, 共振和P/C不作用
MIA檢測平面外的硬度
裂紋和空隙膠接
膠接碳復(fù)合材料
共振檢測膠接層-穿透碳表層顯示裂紋和空隙膠接
垂直裂縫代表幾個像素的轉(zhuǎn)變,
不能手動檢測
精確檢測結(jié)果
美國NDT Systems膠接成像檢測儀Bondascope3100
可檢測的缺陷
膠接結(jié)構(gòu)Bonded Structures 脫膠、不粘膠或有異物存在
復(fù)合材料
分層、撞擊損壞、異物存在、孔隙缺陷
夾層結(jié)構(gòu)
脫膠、不粘膠、撞擊損壞、異物存在、 內(nèi)部缺陷、深層缺陷、孔隙缺陷
修復(fù)驗(yàn)證
一收一發(fā)模式
一收一發(fā)探頭
探頭發(fā)射器發(fā)射聲波到測試板塊，接收器接收聲波
膠接狀態(tài)-超聲波穿過表面，低能量接收，顯著衰減非膠接狀態(tài)-高能量接收，低衰減
校準(zhǔn)簡單不需要耦合劑，快速高滲透
機(jī)械阻抗模式 (MIA)
探頭由傳感器、接收器原件和探針組成.
探頭接收能量與試塊的硬度有關(guān)。
當(dāng)系統(tǒng)“清零"，傳感器和接收器的一起振動具有相同的相位和振幅。
當(dāng)探頭移動到不膠接區(qū)域，相位和振幅會隨之變化。
無需耦合劑,準(zhǔn)確定位缺陷,適用于硬,不規(guī)則的曲面
共振/諧振模式
探頭是諧振頻率傳感的超聲波接觸探頭
儀器自動選擇在空氣中的探頭的共振頻
率掃過的頻率范圍和零位。
與測試部分的接觸，材料衰減降低了振幅，并改變諧振頻率。
這個參考條件可以清零。脫膠部分會改變聲阻抗、相位和振幅。相位表現(xiàn)多層結(jié)構(gòu)缺陷的深度。
高頻探頭適用于薄材料，厚材料則需要低頻探頭。
需要用耦合劑高滲透，用于檢測多層材料材料表現(xiàn)突出。
為什么膠接檢測需要成像系統(tǒng)
便于理解
增加檢測有損概率
100% 精準(zhǔn)覆蓋掃描
自動或手動掃描
數(shù)字化顯示
高效快速
碳表層/ honeycomb sandwich panel
檢測表面脫膠和深層脫膠缺陷
XY軸或振幅不能顯示全部缺陷
110kHz 共振模式, 相位顯示
復(fù)合材料的參考標(biāo)準(zhǔn)
航空復(fù)合層壓板檢測標(biāo)準(zhǔn)
3mm 黃銅阻片, 塑料襯底材料，壓敏膠帶附著在不同的深度
110kHz 共振模式(compromise)
復(fù)材階梯試塊
共振檢測碳層壓板試塊
測厚范圍- 0.3mm– 2mm
厚度和缺陷的變化都會影響相位和振幅
碳表面/鋁/蜂窩材料
衛(wèi)星平板- 碳表面, 鋁， 蜂窩材料
干耦合MIA模式
擠壓核心, 脫膠, 內(nèi)部深層缺陷等等
典型材料組合
膠接結(jié)構(gòu)
鋁-鋁
碳纖維-碳纖維
復(fù)材
碳纖維
石墨
玻璃鋼
夾層結(jié)構(gòu)
鋁殼
碳?xì)?/span>
玻璃纖維
芳綸核心
蜂窩板
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