產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
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接地模式:可根據(jù)體系要求設(shè)置成實(shí)地模式或浮地模式
槽壓:±15V
?電位掃描范圍:±12.8V
CV最小電位增量:0.0125mV
電位控制精度:<±0.5mV
電位控制噪聲:<0.01mV
電位上升時(shí)間:<0.25uS
鄭州杜甫儀器廠 |
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參考價(jià) | ¥ 63000 |
訂貨量 | 1臺(tái) |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn) |
更新時(shí)間:2024/11/12 15:51:44瀏覽次數(shù):2522
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DF2031-A電化學(xué)工作站分析系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù):
儀器架構(gòu):恒電位儀、恒電流儀
接地模式:可根據(jù)體系要求設(shè)置成實(shí)地模式或浮地模式
槽壓:±15V
電位掃描范圍:±12.8V
CV最小電位增量:0.0125mV
電位控制精度:<±0.5mV
電位控制噪聲:<0.01mV
電位上升時(shí)間:<0.25uS
電位測(cè)量零位:自動(dòng)校正
電位更新及阻抗采集速率:10MHz
電位測(cè)量低通濾波器:自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置
電位測(cè)量精度:滿量程的0.1%
掃描速度:0.000001V/S~20000V/S
參比電極輸入阻抗//電容:>1013Ω//<10pF
最大恒電流輸出 :±500mA
輸入偏置電流:<0.1pA
電流測(cè)量分辨率:電流量程的0.00076%,最小0.2fA
電流測(cè)量零位:自動(dòng)校正
電流測(cè)量量程:1pA~500mA(25檔)
前置放大倍數(shù):5×10×100
電流測(cè)量最高靈敏度:1×10-12A/V
電流測(cè)量精度:滿量程的0.1%
電流測(cè)量低通濾波器:自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置
方波伏安法頻率:1Hz~100kHz
CA和CC脈沖寬度:0.1mS~1200S
DPV脈沖寬度:0.05mS~64S
IR降補(bǔ)償:自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置(10Ω~1MΩ)
多階躍循環(huán)次數(shù):1000次
限壓反饋恒流換向時(shí)間:<0.1mS
恒流限壓循環(huán)周期:0.1S~100000S
電池全容量充電工步:激活、恒流、恒壓、涓流
雙通道高速ADC:18bit@1Msps
最大數(shù)據(jù)長(zhǎng)度:20,000,000點(diǎn)
通氮攪拌及敲擊控制輸出:二路開(kāi)關(guān)量信號(hào)(+5V/10mA)
擴(kuò)展輸出:二路光電隔離數(shù)字量信號(hào)
儲(chǔ)能電化學(xué)測(cè)量保護(hù)模式:極性、電壓、電流、時(shí)間、鏈路
電極智能柔性保護(hù) :電壓超載、電流超載
二、DF2031-A電化學(xué)工作站分析系統(tǒng)測(cè)試方法包括:
線性掃描伏安法LSV | 多電流階躍計(jì)時(shí)電位法 |
線性掃描溶出伏安法 | 控制電流E-T曲線 |
線性掃描循環(huán)伏安法LCV | 塔菲爾圖Tafel |
動(dòng)電流掃描I-E曲線 | 電池恒流充電 |
階梯伏安法SV | 電池恒流放電 |
階梯溶出伏安法 | 電池恒流循環(huán)充放電 |
階梯循環(huán)伏安法SCV | 電池全容量分段充電 |
方波伏安法SWV | 電池全容量分段放電 |
方波溶出伏安法 | 半電池恒流陽(yáng)極極化 |
方波循環(huán)伏安法SWCV | 半電池恒流陰極極化 |
差示脈沖伏安法DPV | 半電池恒流循環(huán)極化 |
差示脈沖溶出伏安法 | 恒流限壓快速循環(huán)充放電 |
常規(guī)脈沖伏安法NPV | 高阻電位計(jì) |
差示常規(guī)脈沖伏安法DNPV | 零阻電流計(jì) |
單電位階躍計(jì)時(shí)電流法CA | 環(huán)形掃描 |
單電位階躍計(jì)時(shí)電量法CC | 差分脈沖電流檢測(cè) |
多電位階躍計(jì)時(shí)電流法 | 雙差分脈沖電流檢測(cè) |
多電位階躍計(jì)時(shí)電量法 | 三脈沖電流檢測(cè) |
恒電位電解I-T曲線 | 積分脈沖電流檢測(cè) |
恒電位電解Q-T曲線 | 鍍錫量測(cè)定 |
恒電位溶出I-T曲線 | 控制電位電解庫(kù)侖法 |
恒電位溶出Q-T曲線 | 四探針電阻率測(cè)量 |
開(kāi)路電位E-T曲線OCPT | 器件電阻電源內(nèi)阻測(cè)量 |
電位溶出E-T曲線 | 線狀材料電阻率測(cè)量 |
單電流階躍計(jì)時(shí)電位法CP | 刀狀探頭方塊電阻測(cè)量 |
宏方法(用戶可自編腳本進(jìn)行多種電化學(xué)方法的組合運(yùn)行)
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