KIF-10A-DW 小型LD干涉儀
- 公司名稱 北京元中銳科集成檢測技術有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號 KIF-10A-DW
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2019/8/19 11:52:48
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總評
用于品種多量少的小型鏡片的生產現場上的快速品質檢查。(KIF-10A-DW)
檢查不同規(guī)格的鏡片時不需要使用配套夾具,用于品種多數量少的鏡片檢查,只需將鏡片放置其上,如同使用顯微鏡一樣的簡單操作,便可輕便迅速地對應品質檢查。
主要用途:
· 評價鏡片研磨面的面精度。
· 評價塑料成型件的面精度。
· 評價各種小型球面、平面部件的面精度。
采用635nm 波長激光,順利引入生產線。(在線)
因與目前在斐佐型干涉儀上所使用的632.8mm 激光波長極為相似,干涉條紋的條紋感應度也與其近似??身樌麘玫浆F有的檢查加工工程中。(在線)
品種豐富、種類齊全的參照鏡
參照鏡采用1英寸的緊湊結構,其種類與KIF-202L系列相比較也毫不遜色。
KIF-10A-DW規(guī)格
檢查方式 斐佐型干涉方式 口徑 Φ25.4mm(1英寸) 倍率 1倍 參照鏡面精度 λ/15(球面以及平面) 光源 半導體激光(635nm)2級產品激光輸出功率為0.8mw以下。 電源 一次電源AC100~240V 50/60Hz 本體供給電源 DC12V 被檢物大小 R: 140mm~113mm*、直徑~約110mm 本體外形尺寸 180(W)×230(D) ×440(H)mm 本體重量 約5.2kg 主要選件 3軸受臺、2軸受臺、小型液晶顯示器(2.5型、5.6型)、參照鏡、測長機組、減衰過濾器AF、孔徑轉換器Φ25-Φ6