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KIF-PU 透過波面測定干涉儀

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元中銳科集成檢測技術有限公司是工業(yè)檢測技術和系統(tǒng)集成商。是日本奧林巴斯(OLYMPUS)株式會社三維超景深顯微鏡,正立金相顯微鏡,小型系統(tǒng)顯微鏡,數(shù)碼光學顯微鏡,激光共焦顯微鏡,工業(yè)顯微鏡的代理商。還是德國UHL產品在北方的總代理。致力于為工業(yè)制造和科研領域用戶提供顯微分析、圖像分析、缺陷識別和檢驗、無損探查、品質管理、計量,過程控制等專業(yè)檢測設備,依托強有力的技術資源及完善專業(yè)的售后服務與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細致的服務及全面地解決方案 。
服務對象涵蓋科研院校,航空航天、冶金、電力、地質,石油石化等材料研究行業(yè),機械及微機械領域,以及電子領域、光電顯示制造、電子零件制造、半導體、液晶及MEMS,NANO等諸多領域,為用戶提供*的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供Z強有力的技術支持。
我們的技術:可見光、激光、深紫外、紅外、偏光、掃描、共聚焦等多種顯微術、精密量測技術、全自動顯微觀察及測量、數(shù)字圖象處理和識別,自動控制等。
我們的宗旨:秉承 創(chuàng)新Innovation; 技術 Technology集成 Integration;服務 Service的理念,
堅持專業(yè)周到細致的服務,不斷努力創(chuàng)新,更好地創(chuàng)造顧客價值和公司價值,成為工業(yè)檢測和質量及過程控制方面的優(yōu)秀的公司之一。

激光共聚焦顯微鏡

無需選擇操作員即可進行穩(wěn)定的測定
配備了標準的壓電驅動受臺的自動調整構造以及軟件,降低了調整誤差所導致的測定值的變動。在高NA的光讀取頭鏡片的透過波面測定中發(fā)揮威力。

可測定405nm帶鏡片·650nm帯鏡片
標準裝載了405nm光源與658nm光源的兩種波長,可通過簡單的操作切換測定波長,可對任一方的光學部品進行評價。

可進行直線/圓偏光切換
測定具有在讀取頭光學部品中使用的偏光依存性的被檢物時,需要進行直線/圓偏光切換。進行塑料以及晶體等具有復屈折特性的部品的透過波面測定。

小型·高剛性
小型且高剛性的本體具有防振功能且充分考慮到生產現(xiàn)場的使用環(huán)境,所以不占空間即可進行迅速的品質檢查。

可進行合否判定
的軟件,具有根據(jù)任意設定的規(guī)格值進行合否判定的機能,所以在生產線中可簡單地進行合否的判定。

主要用途:
· DVD、Blu-Ray Disk等的對物透鏡的透過波面測定
· 光讀取頭光學部品的透過波面測定
· 小型反射鏡、棱鏡等的光學部品的透過波面測定

主要規(guī)格:  

測定波長 圖片 2405nm , 658nm (激光等級 2 產品)
干涉方式 Twyman-Green( 泰曼 - 格林 )
測定光束徑 Φ 6mm 測定可能徑 Φ 2 ~ 6mm ( 包括調整用周邊的徑 )
偏光規(guī)格 圓·直線切換
反射球面 N.A 0.85
焦點
調整 有 ( spot monitor )
干涉條紋表示圖像大小 630 X 470 (像素)
解析方式 條紋掃描方式
遙控 調整 標準裝備 遙控調整范圍 :± 50um ( 手動調整范圍 :± 0.5mm )
倍率 1X , 3X ( 數(shù)碼倍率切換 )
裝置重量 本體 : 約 22kg( 除電腦 、 打印機 ) 遙控控制器 : 約 0.5kg
裝置尺寸 本體 : 330(W) × 465(D) × 460(H)mm 遙控控制器 : 154(W) × 100(D) × 75(H)mm
電源規(guī)格 100 - 240V AC 100VA 50-60Hz
使用環(huán)境 水平且無振動的地方 ( 地面振動 ± 0.8m/s2 以下) 溫度: 23 ± 3 ℃ 濕度: 60 %以下、 無結露

 



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