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KIF-10A-NW/NTW(KIF-10A-NW/NTW) 小型牛頓干涉儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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元中銳科集成檢測技術(shù)有限公司是工業(yè)檢測技術(shù)和系統(tǒng)集成商。是日本奧林巴斯(OLYMPUS)株式會社三維超景深顯微鏡,正立金相顯微鏡,小型系統(tǒng)顯微鏡,數(shù)碼光學(xué)顯微鏡,激光共焦顯微鏡,工業(yè)顯微鏡的代理商。還是德國UHL產(chǎn)品在北方的總代理。致力于為工業(yè)制造和科研領(lǐng)域用戶提供顯微分析、圖像分析、缺陷識別和檢驗、無損探查、品質(zhì)管理、計量,過程控制等專業(yè)檢測設(shè)備,依托強有力的技術(shù)資源及完善專業(yè)的售后服務(wù)與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細(xì)致的服務(wù)及全面地解決方案 。
服務(wù)對象涵蓋科研院校,航空航天、冶金、電力、地質(zhì),石油石化等材料研究行業(yè),機械及微機械領(lǐng)域,以及電子領(lǐng)域、光電顯示制造、電子零件制造、半導(dǎo)體、液晶及MEMS,NANO等諸多領(lǐng)域,為用戶提供*的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供Z強有力的技術(shù)支持。
我們的技術(shù):可見光、激光、深紫外、紅外、偏光、掃描、共聚焦等多種顯微術(shù)、精密量測技術(shù)、全自動顯微觀察及測量、數(shù)字圖象處理和識別,自動控制等。
我們的宗旨:秉承 創(chuàng)新Innovation; 技術(shù) Technology;集成 Integration;服務(wù) Service的理念,
堅持專業(yè)周到細(xì)致的服務(wù),不斷努力創(chuàng)新,更好地創(chuàng)造顧客價值和公司價值,成為工業(yè)檢測和質(zhì)量及過程控制方面的優(yōu)秀的公司之一。

激光共聚焦顯微鏡

可進行穩(wěn)定的檢測
緊湊型的臺式機,可放置于小的空間。在上面放置被測鏡片進行測定,無需花費時間裝卸。帶有防震構(gòu)造,可簡單地進行穩(wěn)定的測試。

可根據(jù)被檢物簡單地改變測定姿勢(KIF-10A-NW)
可通過只更改腳部安裝部位的位置,來改變測定的姿勢。所以可根據(jù)被測物的需求,當(dāng)作上置式或下置式使用。

采用635nm 波長激光,順利引入生產(chǎn)線。(在線)
因與目前在斐佐型干涉儀上所使用的632.8mm 激光波長極為相似,干涉條紋的條紋感應(yīng)度也與其近似??身樌麘?yīng)用到現(xiàn)有的檢查加工工程中。(在線)

品種豐富、種類齊全的參照鏡
參照鏡采用1英寸的緊湊結(jié)構(gòu),其種類與KIF-202L系列相比較也毫不遜色。

主要用途
單體鏡片的光圈數(shù),面精度評價 

KIF-10A-NW/NTW規(guī)格: 

受臺開口徑   Φ42mm
被測物固定方法   鏡片治具(因各鏡片的形狀各異) 
受臺的鏡片治具接合口徑Φ63mm
本體外徑尺寸 NW 290(W)×240(D)×600(H) (mm )
(含遮光板)
  NTW 750(W)×450(D)×1280(H)mm
(桌子高度調(diào)整范圍zui大值)
本體重量 NW 約9.0Kg
(含干涉儀本體約2.0Kg)
  NTW  約37Kg
(含干涉儀本體約2.0Kg)
沖程 移動 ±1mm
  Z粗動 朝上:沖程156mm 
朝下:沖程130mm
(但因被測物的厚度,鏡片治具形狀各異)
  Z微動 ±1mm
選件   小型顯示器(2.5型,5.6型)
參照鏡
孔徑轉(zhuǎn)換器RF25-D6

鏡片治具敬請客戶自行配備

KIF-10A-NW/NTW 各參照鏡的測量范圍
KIF-10A-NW (上置式)/NTW 

參照鏡 檢查可能曲率半徑 檢查可能曲率半徑 檢查可能zui大口徑 檢查可能zui大口徑
FNO zui終R R/D
0.6 8.2 0.67 6.7 169.0 10.0 41*2
0.7 11.8 0.78 10.5 165.0 13.5 41*2
1.0 20.0 1.07 18.0 157.0 16.8 41*2
1.5 31.5 1.53 30.0 145.0 19.6 41*2
2.0 44.4 2.04 43.0 132.0 21.1 41*2
3.0 69.5 3.05 68.0 106.0 22.3 34.7
6.0 147.1 6.09 146.0 - 24.0 -


KIF-10A-NW (下置式) 

參照鏡 檢查可能曲率半徑 檢查可能曲率半徑 檢查可能zui大口徑 檢查可能zui大口徑
 FNO zui終R R/D
0.6 8.2 0.67 6.7 143.0 10.0 100*1
0.7 11.8 0.78 10.5 139.0 13.5 100*1
1.0 20.0 1.07 18.0 132.0 16.8 100*1
1.5 31.5 1.53 30.0 120.0 19.6 78.4
2.0 44.4 2.04 43.0 107.0 21.1 52.4
3.0 69.5 3.05 68.0 82.0 22.3 26.8
6.0 147.1 6.09 146.0 - 24.0 -

可測定的zui大曲率半徑所表示的是在設(shè)定被檢物的厚度為零的情況下的數(shù)值。
可測定的zui大曲率半徑是在凹面?zhèn)炔⒏鶕?jù)鏡片結(jié)合夾具形狀、干涉儀的設(shè)置方向(上置型/下置型)等的機械尺寸以及受臺部形狀而變化
可測量zui大口徑中,帶有*1記號的數(shù)值為受臺上可放置的zui大口徑,帶有*2記號的數(shù)值為根據(jù)受臺開口徑確定的可測定zui大口徑。
FNO 表示光學(xué)設(shè)計上近軸FNO,實效值用R/D表示。
可檢查zui小口徑以及zui小曲率半徑根據(jù)被檢物的形狀而異。
相關(guān)符號:R:曲率半徑、D:直徑



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