日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學(xué)分析專家
- 公司名稱 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/2/21 10:11:34
- 訪問次數(shù) 33
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學(xué)分析專家-成都藤田科技提供
Smart膜厚儀 vs OPTM顯微分光膜厚儀——革新光學(xué)測量的雙引擎
核心對(duì)比與OPTM優(yōu)勢:
技術(shù)差異化:
OPTM系列:基于分光干涉法,結(jié)合顯微光學(xué)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)反射率分析,支持超薄膜(1nm)與復(fù)雜多層結(jié)構(gòu),技術(shù)解決透明基板干擾。
Smart膜厚儀:側(cè)重便攜性與快速篩查,適用于常規(guī)單層膜厚測量,但精度與功能擴(kuò)展性不及OPTM系列。
應(yīng)用場景:
OPTM適用于研發(fā)(R&D)與高精度QC,如半導(dǎo)體晶圓、光學(xué)濾光片;Smart膜厚儀更適合產(chǎn)線快速抽檢。
性價(jià)比優(yōu)勢:OPTM以中型設(shè)備成本提供媲美橢偏儀的精度,且操作門檻更低,軟件內(nèi)置NIST校準(zhǔn)追溯,確保數(shù)據(jù)可靠性。
產(chǎn)品信息
特點(diǎn)
● 可攜帶至現(xiàn)場的手持式
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜
測量項(xiàng)目
膜厚測量范圍 | 1μm~50μm |
測量重復(fù)性 | 0.01μm |
測量時(shí)間 | 1秒以下 |
Smart手持式膜厚儀與其他膜厚儀的比較
與桌上型光學(xué)膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現(xiàn)場”以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會(huì)破壞您的樣品,也不會(huì)因?yàn)橛脩舨煌a(chǎn)生誤差且遠(yuǎn)高于接觸式膜厚計(jì)的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不需要制作檢量線,且可以量測非金屬基材并且得到值!
日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學(xué)分析專家-成都藤田科技提供