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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>在線測厚儀> 日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀

日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 成都藤田科技有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2025/2/21 14:31:29
  • 訪問次數(shù) 44

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公司簡介

COMPANY INTRODUCTION

成都藤田科技有限公司經(jīng)營進(jìn)出口業(yè)務(wù)7年有余,位于西南地區(qū)四川成都;通過不斷努力、進(jìn)步與各類日本、部分歐美品牌建立長期穩(wěn)定的合作關(guān)系,覆蓋電子產(chǎn)品、工具、電子元器件、儀器儀表、防靜電設(shè)備、輔料、自動化設(shè)備、非危險性化工產(chǎn)品、機(jī)械設(shè)備及配件、通信設(shè)備。

成都藤田科技供貨渠道

因為長期良好的經(jīng)營環(huán)境,獲得國內(nèi)外客戶與商社的喜愛,隨著互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展建立了專有的網(wǎng)絡(luò)模式MRO;

堅持以服務(wù)客戶為主的經(jīng)營理念、追求客戶滿意服務(wù)為宗旨、禮貌誠信為原則提供客戶服務(wù),并以成為客戶值得信賴的工業(yè)品綜合服務(wù)商為目標(biāo)。

MRO兩種形式

  1. 超市建立工業(yè)品專柜,大型超市也會經(jīng)營部分工業(yè)品,但種類和數(shù)量有限。

  2. 網(wǎng)上工業(yè)品超市,這種形式配送可為客戶大規(guī)模找尋產(chǎn)品,使供應(yīng)商和采購商都實現(xiàn)“進(jìn)入一個點,得到一大片”連鎖效應(yīng),有效降低采購商采購成本。

代理品牌:

  1. 日本MUSASHI武藏(點膠機(jī)

  2. 日本HOYA豪雅 (UV固化燈,玻璃鏡片)

  3. 日本SIGMAKOKI西格瑪 (光學(xué)元件、物鏡等)

  4. 日本YUMEX優(yōu)美科思(各種疝氣燈)

  5. 日本TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)(粘度計

  6. 日本KANOMAX加野(風(fēng)速儀)

  7. 日本YAMADA雅瑪達(dá)(隔膜泵)

  8. 日本EPSON愛普生 (機(jī)械臂)

  9. ATTEN安泰信 (焊接產(chǎn)品)

  10. 日本TSUBOSAN壺三(銼刀工具)

  11. 日本sakurai櫻井(無塵紙

  12. 韓國DIT東日技研(除靜電產(chǎn)品)

  13. 韓國HANIL韓一(攪拌機(jī))

優(yōu)勢品牌:

  1. 日本Otsuka大塚電子(晶圓、覆膜測厚儀)

  2. 日本FLUORO福樂(用于晶圓的搬運)

  3. 日本AND艾安得(微量電子 分析天平)

  4. 英國Meech密其(非接觸式除塵系統(tǒng))

  5. 日本SSD西西蒂(防靜電設(shè)備)

  6. 日本NEW-COSMOS 新宇宙(氣體檢測儀

  7. YIZOMO一子沫(拉拔機(jī))

  8. 日本FURUPLA富如拉(噴壺)

  9. 日本PISCO匹士克(氣動元件

  10. 日本TECHNO特古羅(錫爐)

  11. 日本AMANO安滿能(除塵設(shè)備)

  12. 日本MALCOM馬康(粘度計)

  13. 日本HOZAN寶山(鑷子、鉗子等工具)

  14. 日本MITUTOYO三豐 (測量器具)

  15. 美國SIMCO思美高(防靜電、除塵產(chǎn)品);

成都藤田科技為廣大客戶提供一體化、全面、優(yōu)質(zhì)高效服務(wù)。

 

 

 

進(jìn)出口業(yè)務(wù),日本武藏點膠機(jī),日本豪雅檢測光源,??狄曈X成像,安泰信焊錫設(shè)備

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合

日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀


產(chǎn)品信息

特殊長度

● 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度

● 使用反射光譜分析薄膜厚度

● 實現(xiàn)非接觸、非破壞的高精度測量,同時體積小、價格低

● 簡單的條件設(shè)置和測量操作!任何人都可以輕松測量薄膜厚度

● 通過峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、優(yōu)化法等,可以進(jìn)行多種膜厚測量。

● 非線性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計數(shù))。

測量項目

反射率測量

膜厚分析(10層)

光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計數(shù))

測量對象

功能膜、塑料
透明導(dǎo)電膜(ITO、銀納米線)、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、膠粘劑、保護(hù)膜、硬涂層、防指紋, 等等。

半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍(lán)寶石等。

表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。

光學(xué)材料
濾光片、增透膜等。

FPD
LCD(CF、ITO、LC、PI)、OLED(有機(jī)膜、封裝材料)等

其他
HDD、磁帶、建筑材料等


原理

測量原理

大冢電子利用光學(xué)干涉儀和自有的高精度分光光度計,實現(xiàn)非接觸、無損、高速、高精度的薄膜厚度測量。光學(xué)干涉測量法是一種使用分光光度計的光學(xué)系統(tǒng)獲得的反射率來確定光學(xué)膜厚的方法,如圖 2 所示。以涂在金屬基板上的薄膜為例,如圖1所示,從目標(biāo)樣品上方入射的光被薄膜表面(R1)反射。此外,穿過薄膜的光在基板(金屬)和薄膜界面(R2)處被反射。測量此時由于光程差引起的相移所引起的光學(xué)干涉現(xiàn)象,并根據(jù)得到的反射光譜和折射率計算膜厚的方法稱為光學(xué)干涉法。分析方法有四種:峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法和優(yōu)化法。

日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀

規(guī)格

規(guī)格

類型薄膜型標(biāo)準(zhǔn)型
測量波長范圍300-800nm450-780nm
測量膜厚范圍
(SiO 2換算)
3nm-35μm10nm-35μm
光斑直徑φ3mm / φ1.2mm
樣本量φ200×5(高)mm
測量時間0.1-10s內(nèi)
電源AC100V ± 10% 300VA
尺寸、重量280 (W) x 570 (D) x 350 (H) 毫米,24 公斤
其他參考板,配方創(chuàng)建服務(wù)


設(shè)備配置

光學(xué)家譜

日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀  


軟件畫面

日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀


日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀-成都藤田科技提供













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