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Agilent/安捷倫 ABI/美國 Accu AB羅克韋爾 BANNER/美國邦納 BD/美國 BERTHOLD/德國 DUNGS/德國 EUCHNER/德國安士 HIOKI/日本日置 HEIDENHAIN/德國 ITECH/艾德克斯 錦正茂 KEYSIGHT/美國是 Keithley/美國吉 Microtrac/拜爾 明德 MIY/米遠電氣 MW Industries OMRON/歐姆龍 OTSUKA/日本大塚 OLYMPUS/奧林巴斯 PARKER/美國派克 PULUODY/普洛帝 PILZ/德國皮爾茲 SIKC/德國 上海征原 WIKA/德國 其他品牌
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SVT-35等美國SVT公司MBE分子束外延系統(tǒng)PX 3480
ZH409數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀 型號:ZH409PX 3588
C190H隔膜材料透氣性測試儀PX 6968
WQ/五強WQ4850A半導體參數(shù)測試儀PX 3707
VS-200半導體氣 瓶 主 閥 門 緊 急 切 斷 裝 置PX 3932
100V 650W計測網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素燈目視檢查PX 3900
SCFBC-352晶閘管少子壽命測試儀/整流管少子壽命儀 型號:SCFBC-352 中慧PX 3288
1345.43VL100-S10供應德國WEBER檢測儀1345.43VL100-S100PX 5062
FR-uProbe-LC光學顯微鏡適配器PX 7260
ChillerPX 1540
N3300A直流電子負載PX 2397
ESPP-L-H-10東京計器 TOKYO-KEIKI 電子式壓力開關PX 3396
M1108型半導體冷凝器PX 7375
Freiberg Instruments MDPspot少子壽命測試儀PX 3370
PIDcon bifacial臺式雙面電池PID測試儀PX 2304
ACU10FA-LH0-5V或4-20mA模擬信號的氣體流量控制器PX 3705
MKS AX7657-85MKS ASTRON2L RPS 半導體遠程等離子源PX 2026
信號分析儀PX 1560
SIR201SIR201PX 3313
PHEMOS-1000 / PHEMOS-XEMMI/OBIRCH微光顯微鏡PHEMOS系列PX 2992
JA-13-T/JAC-13-T日本maedauni高檔噴漆用精密測量設備潔凈室PX 2960
工業(yè)半導體三維加工系統(tǒng)Quantum X shapePX 1494
德國BERTHOLD檢測儀PX 3690
EVG 510 Wafer Bonding晶圓鍵合機PX 3180
配電室配電柜監(jiān)測系統(tǒng) 在線檢測設備PX 3599
ASM Eagle 12熱壓粘合器PX 1849
DZ-LT-1高頻光電導少子壽命測試儀PX 2836
UVE-251S日本san-eielectric桌上型紫外線曝光機PX 5999
電子鎮(zhèn)流器120v一拖二PX 2868
配電房工業(yè) 在線監(jiān)測系統(tǒng)熱成像卡片機PX 4278
customized分子束外延薄膜沉積系統(tǒng)MBEPX 1950
日本ekkeagle半導體用 磁流體密封PX 3602
Kt17可控硅控制器PX 3330
MDPinline ingot在線硅錠成像設備PX 2220
ZKGEST-125半導電橡塑材料體積電阻率試驗儀PX 4324
G-9離子風槍PX 4526
UC5815-S4四通道脈沖式線圈測試儀PX 3072
電纜局 配電室 電纜故障在線監(jiān)測系統(tǒng)PX 4560
電工套管耐熱試驗裝置PX 2576
VUM3500全新ORC歐阿希 VUM-3500半導體用UV照射設備PX 5087
薄膜生長設備
工藝測量和檢測設備
集成電路測試與分選設備
光刻及涂膠顯影設備
熱工藝設備/熱處理設備
硅片制備/晶體生長設備
掩模版和中間掩模版制造設備
離子注入設備
干法工藝設備
濕法工藝設備
組裝與封裝設備
其它半導體行業(yè)儀器設備
晶圓幾何形貌量測機
Horiba汽化器MV-2000 液體轉(zhuǎn)氣體流量計
Horiba直接注入式汽化器VC-1420
PTC循環(huán)老化壽命測試系統(tǒng)
日本HOBIBA堀場進口全新晶圓背面冷卻系統(tǒng)
HOBIBA堀場玉科日本全新晶圓背面冷卻系統(tǒng)
高精度晶圓厚度幾何量測系統(tǒng)
SPV表面光電壓方阻測試
MURAKAMI村上技研 AE型磨削間隙消除器
半導體電橡塑材料體積電阻率試驗儀
日本KYOWA共和帶保護殼箔式應變片
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學儀器有限公司
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