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原子力顯微鏡測(cè)試(AFM) 詳細(xì)摘要: 原子力顯微鏡測(cè)試(AFM),可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè),或者直接進(jìn)行納米操縱。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海 更新時(shí)間:2024-09-05 參考價(jià):¥ 2400 在線留言
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